XRDanalysis - это программный пакет нового поколения для анализа данных, полученных методом порошковой дифракционной спектроскопии на приборе XRDynamic 500, производства компании Anton Paar. Он позволяет без труда выполнять настройку профиля, идентификацию фаз или проводить количественный анализ, а также анализ микроструктуры и данных, полученных как в условиях окружающей среды, так и в специальных условиях. XRDanalysis предлагает оптимизированные методики анализа для решения различных задач, помогая пользователям, плохо знакомым с рентгеновской дифракцией, сохраняя гибкость, требуемую более продвинутыми пользователями.
Автоматизируйте анализ, объединив несколько аналитических задач в одну методику
Выполняйте анализ данных, полученных методом порошковой дифракционной спектроскопии так, как Вам нужно, пользуясь гибкостью настройки рабочего процесса, что позволяет объединять и выполнять несколько задач одним щелчком мыши. Поиск пиков, подбор профиля, идентификацию фаз и даже анализ Ритвельда - все этапы можно объединить в единый рабочий процесс для автоматизации задач анализа. Для оценки нескольких наборов данных также можно легко выполнить пакетную обработку, даже используя разные методики для разных наборов данных, если это необходимо. Это делает XRDanalysis чрезвычайно простым для изучения и использования менее опытными пользователями, в то же время предоставляя опытным пользователям необходимую гибкость.
Расширенные возможности идентификации фаз позволяют не пропустить ни одной фазы
Алгоритмы поиска/нахождения соответствия, используемые в XRDanalysis, позволяют идентифицировать фазы посредством поиска в справочных базах данных, таких как PDF из ICDD. После добавления фаз выполняется расширенный окончательный поиск, гарантируя идентификацию даже самых незначительных фракций. Более того, окончательный поиск также работает, если фазы были загружены вручную (например, из CIF), поэтому в процессе идентификации фазы Вы не должны полагаться только на справочные базы данных.
Точная количественная оценка фаз даже для второстепенных фаз
Опция уточнения Ритвельда в XRD-анализе позволяет выполнять количественный фазовый и структурный анализ с учетом всех микроструктурных эффектов прибора и образца. Анализ Ритвельда можно выполнить на любой фазе, где можно определять положения атомов. Фазы могут быть либо напрямую внесены в результате споставления со справочной базой данных, либо добавлены вручную из файлов CIF; также возможны комбинации внесения фаз из обоих источников. Уточнение параметров фазы не только только позволяет определить фракцию, но также и параметры микроструктуры, такие как размер кристаллитов и деформации.
Настраиваемые параметры составления отчета
XRDanalysis позволяет быстро и легко экспортировать данные и графику с каждого этапа анализа в любом формате на Ваш выбор. Включая оптимизированный интерфейс с пакетами Microsoft Office, функция отчетности и экспорта данных позволяет оптимально подготовить данные и графику для публикации или для дальнейшего анализа за пределами платформы XRDanalysis.
| Модель | XRDanalysis |
| Требования к системе | Intel™ i5, 2.67 ГГц и выше |
| | 16 Гб RAM (в зависимости от операционной системы) |
| | 1.5 Гб свободного пространства на диске |
| Поддерживаемые | Microsoft Windows™ 8, 10; 64-бит |
| операционные системы | |
| |
Платформи для рентгенівської дифракції.pdf
Для получения информации по теме: «Программный пакет XRDanalysis» свяжитесь с нами по телефону (044) 229 15 31 или заполните форму.