'В обзорной статье в доступной форме представлена современная научная информация о возможностях атомно-силовой и сканирующей зондовой микроскопии. Приведены характерные особенности методик атомно-силовой микроскопии, которые позволяют получать дополнительную информацию о свойствах образца. В частности, рассмотрены разные режимы: фазового изображения, метод зонда Кельвина, силовых кривых. Рассмотрены принципы работы атомного силового и сканирующего туннельного микроскопа и примеры реализации различных методик для исследования микроскопических объектов различного происхождения. В статье показано, как при микроскопическом исследовании материала можно не только изучить топографию анализируемой поверхности, но и определить химический состав тех или иных особенностей рельефа поверхности, а также получить дополнительную информацию о механических и физических свойствах поверхности в различных условиях. Статья предназначена для широкого круга специалистов, материаловедов и других научных работников.