XRDanalysis - це програмний пакет нового покоління для аналізу даних, отриманих методом порошкової рентгенівської дифрактометрії на приладі XRDynamic 500, виробництва компанії Anton Paar. Він дозволяє легко виконувати налаштування профілю, ідентифікацію фаз або проводити кількісний аналіз, а також аналіз мікроструктури і даних, отриманих як в умовах навколишнього середовища, так і в спеціальних умовах. XRDanalysis пропонує оптимізовані методики аналізу для вирішення різних завдань, допомагаючи користувачам, погано знайомим з рентгенівською дифракцією, але й зберігаючи гнучкість, необхідну більш просунутими користувачами.
Автоматизуйте аналіз, поєднавши кілька аналітичних завдань в одну методику
Виконуйте аналіз даних, отриманих методом порошкової рентгенівської дифрактометрії так, як Вам потрібно, використовуючи гнучкість налаштування робочого процесу, що дозволяє об'єднувати та виконувати кілька завдань одним клацанням миші. Пошук піків, підбір профілю, ідентифікацію фаз і навіть аналіз Рітвельда – всі етапи можна об'єднати у єдиний робочий процес для автоматизації завдань аналізу. Для оцінки кількох наборів даних можна легко виконати пакетну обробку, навіть використовуючи різні методики для різних наборів даних, якщо це необхідно. Це робить XRDanalysis надзвичайно простим для вивчення та використання менш досвідченими користувачами, водночас надаючи досвідченим користувачам необхідну гнучкість.
Розширені можливості ідентифікації фаз дозволяють не пропустити жодної фази
Алгоритми пошуку/знаходження відповідності, що використовуються в XRDanalysis, дозволяють ідентифікувати фази за допомогою пошуку у довідкових базах даних, таких як PDF та ICDD. Після додавання фаз виконується розширений остаточний пошук, гарантуючи ідентифікацію навіть незначних фракцій. Крім того, остаточний пошук також працює, якщо фази були завантажені вручну (наприклад, CIF), тому в процесі ідентифікації фази Ви не повинні покладатися тільки на довідкові бази даних.
Точна кількісна оцінка фаз навіть для другорядних фаз
Опція уточнення Ритвельда в XRD-аналізі дозволяє виконувати кількісний фазовий та структурний аналіз з урахуванням усіх мікроструктурних ефектів приладу та зразка. Аналіз Ритвельда можна здійснити на будь-якій фазі, де можна визначати положення атомів. Фази можуть бути або безпосередньо внесені в результаті сспівставлення даних з довідковою базою даних, або додані вручну із файлів CIF; також можливим є порівняння з комбінацією з усіма внесеними фазами з обох джерел. Уточнення параметрів фази не тільки дозволяє визначити фракцію, але також параметри мікроструктури, такі як розмір кристалітів і деформації.
Параметри звітності, що налаштовуються
XRDanalysis дозволяє швидко та легко експортувати дані та графіку з кожного етапу аналізу у будь-якому форматі на Ваш вибір. Включаючи оптимізований інтерфейс з пакетами Microsoft Office, функція звітування та експорту даних дозволяє оптимально підготувати дані та графіку для публікації або подальшого аналізу за межами платформи XRDanalysis.
| Модель | XRDanalysis |
| Вимоги до системи | Intel™ i5, 2.67 ГГц та вище |
| | 16 Гб RAM (в залежності від операційної системи) |
| | 1.5 Гб вільного простору на диску |
| Операційні системи, що | Microsoft Windows™ 8, 10; 64-біт |
| підтримуються | |
| |
Платформи для рентгенівської дифракції.pdf
Для отримання інформації по темі: «Програмний пакет XRDanalysis» зв'яжіться з нами по телефону (044) 229 15 31 або заповніть форму.